中科芯（蘇州）微電子科技有限公司
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EQUIPMENT AND INSTRUMENTS
CM300xi
12寸半自動晶圓在片測試系統
Cascade
工作溫度范圍:-60°C~300°C
Summit 200
8寸全自動晶圓在片測試系統
Cascade
8寸及以下wafer測試，可實現全自動測試
B1505A
功率器件分析儀/曲線追蹤儀
Keysight
支持高達 200 A 和 10 kV 高功率晶圓上測試
B1500A
半導體器件參數分析儀
Keysight
最低采樣間隔為 5 ns，高達 40 V 的高壓脈勢
E5071C
矢量網絡分析儀
Keysight
130 dB 寬廣的動態范圍、8 ms 快速測量速度
DSI-LM4000
半自動IC激光標刻機
大族激光
XXXXXX
